마이크로프랜드

No.	구분	특허명
18	[국내]	반도체소자 테스트 소켓용 컨택터 및 그 제조방법
17	[국내]	외팔보 구조물을 이용한 반도체소자 테스트 소켓용 컨택터 및 그 제조 방법
16	[국내]	프로브 카드의 탄성 기능빔 제조 방법과 그 구조
15	[해외]	프로브 카드의 탐침팁 공정 방법
14	[국내]	탐침 카드의 조립구조
13	[해외]	마이크로 제조기술을 이용한 프로브 카드의 니들, 그 제조방법 및 이 니들로 구현된 프로브 카드
12	[국내]	프로브 카드의 프로브 니들 구조체와 그 제조 방법
11	[국내]	프로브 카드 및 그 제조방법
10	[국내]	프로브 카드의 다중 캔틸레버 빔 구조체 및 그 제조 방법

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