피엠티

특허 및 인증서

No. 구분 특허명 비고
12 [해외] METHOD FOR FABRICATING PROBE NEEDLE TIP OF PROBE CARD
11 [해외] METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD NEEDLES
10 [해외] MULTI-CANTILEVER BEAM STRUCTURE OF PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
9 [국내] 프로브 카드의 다중 캔틸레버 빔 구조체 및 그 제조방법
8 [해외] PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
7 [해외] PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
6 [국내] 프로브 카드 및 그 제조방법
5 [국내] 프로브 카드의 프로브 니들 구조체와 그 제조 방법
4 [국내] 마이크로 제조기술을 이용한 프로브 카드의 니들, 그제조방법 및 이 니들로 구현된 프로브 카드
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